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Mit einem Nanoindenter lassen sich quantitativ E-Moduli in sehr kleinen Probenarealen ( 50nm bis 1µ )2 bestimmen. Dies erlaubt die selektive Untersuchung von Materialparametern in heterogenen Systemen, von dünnen Filmen oder von Nanopartikeln. Die obere Abbildung zeigt drei aufeinanderfolgende Indenterabdrücke in Polystyrol-Latexpartikel <200nm, die untere Abbildung eine AFM Aufnahme des verwendeten Nanoindenters.
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